| 单片湿法清洗(图形晶圆)› |
颗粒去除、金属残留去除、图形损伤控制 |
| 单片清洗/干燥› |
水印控制、交叉污染控制 |
| CMP› |
终点检测、dishing控制、WIW/WTW均匀性 |
| 电镀/ECD› |
高深宽比无空洞填充、边缘电流分布 |
| 涂胶显影Track› |
胶厚均匀性、烘烤均匀性、缺陷密度 |
| 缺陷检测(明场/暗场/图形)› |
小尺寸软缺陷捕获率、pattern noise抑制 |
| 晶圆键合/混合键合› |
W2W对准精度、D2W对准精度、界面洁净度 |
| 关键尺寸/套刻量测(CD-SEM/OCD/Overlay)› |
量测精度、TMU、模型反演能力 |